顯微分光光度計顯微光譜系統BEST-UV600

顯微光譜系統具有高兼容性、低成本、覆蓋光譜范圍廣、采樣面積小的特點，可以進行紫外－可見光－紅外光譜段的反射分析，透射分析，熒光分析和偏振分析。顯微光譜系統目前已在微納光學、材料學、生物技術、礦物分析、刑偵技術、司法鑒定、紙幣防偽等領域得到廣泛應用。

優勢：顯微光譜測量系統是一套能夠實現微米級樣品光譜采集的儀器，將紫外－可見分光光度計的檢測范圍有效延伸到了微納光學領域，借助顯微鏡和微型光纖光譜儀的優勢開拓性的研制了新一代的顯微光譜測試系統，設備成為這一光譜研究領域內的測試平臺。

檢測樣本：

纖維、毛毯，服裝，家具，繩索，毛發等、涂料、汽車油漆，刮擦層，美術顏料等微量物證檢驗

文件、紙張，錢幣，墨水，墨粉，印泥、炸藥、膠帶、化妝品、唇膏，指甲油等痕跡物證檢驗

司法鑒定所文書鑒定文件技術鑒定實驗室標準配備設備：增加不同模塊可同時完成文件檢驗中紫外分光光度計、顯微分光光度計、拉曼光譜儀、顯微紅外光譜儀等各項工作需求，進行文件相對形成時間鑒定、文字相對書寫時間鑒定、印章印文相對形成時間鑒定、朱墨時序相對時間鑒定等檢驗

產品特點：

操作簡便：顯微鏡下成清晰像定位，可快速檢測

微區定位：利用共焦原理，實現微小區域的樣品定位和光譜采集

測量能力強：同步原位采集樣品光譜信息和成像信息

擴展功能多：可定制透反射、熒光以及拉曼光譜、Mapping測量

便攜維護：微型光譜儀可以插拔做其它檢測用途，維護簡單和使用便攜

技術參數:

尺寸：157 x 115 x41 mm3

光度計：769g

探測器名稱：Hamamatsu S10420-1106-01

探測范圍：165-1100 nm

像素數量：All: 2068×70pixels；Active：2048×64pixels

像素大小：14×14 mm2

光學平臺：整體設計 交叉C-T

焦距大小：100mm

狹縫尺寸：10,25,50,100,200mm

光柵：多種規格可選

軟件：鑒定文書自動生成系統軟件、具有長度、角度、面積等尺寸測量功能、光譜分析軟件

消高階濾光片：LVF-41-1；SLF-41-365-1；SLF-41-457-1；SLF-41-550-1

前置濾光片：OF-LP-01，OF-LP-02

光纖接頭：NA0.22的SMA905光纖接頭

波長范圍：200-1100nm

光學分辨率：0.2-8nm

信噪比：450:1

A/D位數：16 bits

暗噪聲：6 RMS

動態范圍：10000:1

積分時間：11ms~120 s

雜散：0.1% @ 600nm

矯正線性度：>99%

電學特性：200mA @5 VDC

趙經理18211169763-----010-56526048